A. Fil;
E. Nardon;
P. Beyer;
M. Becoulet;
G. Dif-Pradalier;
V. Gr;
girard;
R. Guirlet;
M. Hoelzl;
G.T.A Huijsmans;
G. Latu;
M. Lehnen;
A. Loarte;
F. Orain;
S. Pamela;
C. Passeron;
C. Reux;
F. Saint-Laurent;
P. Tamain;
JET EFDA contributors;
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C. Bourdelle;
C.F. Maggi;
L. Chôné;
P. Beyer;
G. Fuhr;
X. Garbet;
A. Loarte;
F. Millitello;
A. Monnier;
M. Romanelli;
S. Saarelma;
Y. Sarazin;
JET EFDA contributors;
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M. Bécoulet;
G. Huysmans;
Y. Sarazin;
X. Garbet;
Ph. Ghendrih;
F. Rimini;
E. Joffrin;
X. Litaudon;
P. Monier-Garbet;
J.-M. Ané;
P. Thomas;
A. Grosman;
V.Parail;
H. Wilson;
P. Lomas;
P. deVries;
K.-D. Zastrow;
G.F. Matthews;
J. Lonnroth;
S. Gerasimov;
S. Sharapov;
M. Gryaznevich;
G. Counsell;
S.Fielding;
A. Kirk;
M. Valovic;
R. Buttery;
A. Loarte;
G. Saibene;
R. Sartori;
A. Leonard;
P. Snyder;
L.L. Lao;
P. Gohil;
T.E. Evans;
R.A. Moyer;
Y Kamada;
A Chankin;
N. Oyama;
T. Hatae;
N. Asakura;
O. Tudisco;
E. Giovannozzi;
F. Crisanti;
C. P. Perez;
H. R. Koslowski;
T. Eich;
A. Sips;
L. Horton;
A. Hermann;
P. Lang;
J. Stober;
W. Suttrop;
P. Beyer S. Saarelma;
JET EFDA Contributors;
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X. Garbet;
Y. Baranov;
G. Bateman;
S. Benkadda;
P. Beyer;
R. Budny;
F. Crisanti;
B. Esposito;
C. Figarella;
C. Fourment;
P. Ghendrih;
F. Imbeaux;
E. Joffrin;
J. Kinsey;
A. Kritz;
X. Litaudon;
P. Maget;
P. Mantica;
D. Moreau;
Y. Sarazin;
A. Pankin;
V. Parail;
A. Peeters;
T. Tala;
G. Tardini;
A. Thyagaraja;
I. Voitsekhovitch;
J. Weil;
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R. Wolf;
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Ph. Ghendrih;
Y. Sarazin;
M. Bécoulet;
G. Huysmans;
S. Benkadda;
P. Beyer;
C. Figarella;
X. Garbet;
P. Monier-Garbet;
the JET team;
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C. Bourdelle;
C.F. Maggi;
L. Chôné;
P. Beyer;
J. Citrin;
N. Fedorczak;
X. Garbet;
A. Loarte;
F. Millitello;
M. Romanelli;
Y. Sarazin;
JET EFDA contributors;
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X. Garbet;
Y. Baranov;
G. Bateman;
S. Benkadda;
P. Beyer;
R. Budny;
F. Crisanti;
B. Esposito;
C. Figarella;
C. Fourment;
P. Ghendrih;
F. Imbeaux;
E. Joffrin;
J. Kinsey;
A. Kritz;
X. Litaudon;
P. Maget;
P. Mantica;
D. Moreau;
Y. Sarazin;
A. Pankin;
V. Parail;
A. Peeters;
T. Tala;
G. Tardini;
A. Thyagaraja;
I. Voitsekhovitch;
J. Weil;
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R. Wolf;
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